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手持式XRF矿石分析仪用于金矿探测的解决方案

奥林巴斯X射线荧光(XRF)矿石分析仪提供高性能的实时地球化学数据,用于土壤重金属,岩石成分和矿石品位和元素含量的分析。奥林巴斯X射线荧光(XRF)矿石分析仪技术的最新进展增加了测量元素的数量,提高了检测限,并缩短了分析测试时间。


Vanta™XRF矿石分析仪可用于金矿的现场测试,金矿实验室测试和精制金矿产品的快速测量勘探。

优点:
1.通过XRF矿石元素分析仪分析土壤重金属,岩石和矿石中的元素,快速显示潜在的Au矿分布情况;
2.通过使用XRF矿石元素分析仪预筛选样品,优先样品选择,分析预算和选定钻孔目标;
3.通过XRF矿石元素分析仪绘制结构特征图,建模和矢量化,减少稀释和做好金矿的回收;
4.通过使用XRF矿石元素分析仪进行岩石地球化学的简单和快速岩石类型分析;



用于矿物勘探和矿体矢量的金分析和探测的便携式XRF矿石元素分析仪
                                         
矿产类型  地球化学特征
造山金 S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg
高硫化浅成热液 Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn
低硫化浅成低温热液 Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au
卡林型 As, Sb, Hg, Tl
斑岩铜金  Cu, Pb, Zn, Ag
Au Skarns Bi, Te, As, Co
侵入性相关金 Bi, W, As, Sb, Mo, Te
VHMS Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2
氧化铁 Cu-Au (U) F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE
高纯度的金 高纯度的 Au +/– 以上任何一种

金矿床的相关地球化学特征

大多数金矿床都有特定的地球化学特征。XRF矿石元素分析仪分析仪可以检测这些地球化学特征,使地质学家能够更好地了解他们工作的地质系统。典型的金探测的伴随元素包括As,Cu,Pb,Zn,Sb,Bi,Ag和W.

采用Vanta VMR GeoChem模式的XRF矿石元素分析仪的检测下限:
元素 LOD(ppm)* 元素 LOD(ppm)*
As 2 W 1-2
Cu 2-5 Bi 1
Pb 2-3 Sb 2
Zn 1 Ag 2-5

*每束120秒的测试时间,无干扰的SiO2基质; 有关检测下限(LOD)的进一步讨论,请参阅广宇科技OLYMPUS LOD文档

用于检测金的XRF矿石元素分析仪分析仪

众所周知,手持式XRF矿石元素分析仪分析仪不支持在地质样品中直接低水平测量Au(例如,低ppm和ppb)。基于实验室的火试验技术通常被认为是Au分析的首选方法。Au L级X射线位于X射线荧光能谱的非常拥挤的区域中。在该部分光谱中,来自其他元素(例如,As,Zn,W和Se)的干扰可以产生假阳性Au测定。

通过XRF矿石元素分析仪直接测量Au可以在特定情况下实现,例如高含量的(> 5ppm)石英脉环境(相对无干扰)或精制Au产品(其中Au以非常高的浓度存在)。

因此:越来越多的Au现场采矿实验室正在使用XRF矿石元素分析仪代替实验室的火试验技术。


 

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